«« Takaisin Tulosta ilmoitus

Hankintailmoitus:
Lappeenrannan-Lahden teknillinen yliopisto LUT : X-ray diffractometer

06.08.2019 16:45
Ilmoituksen numero HILMA:ssa: 2019-016108
Ilmoituksen numero EUVL:ssä: 2019/S 151-371952
Tarjoukset 06.09.2019 klo 12.00 mennessä osoitteeseen:

https://tarjouspalvelu.fi/hanki?id=247900&tpk=1e0546d9-e89f-4c77-85f1-96cc7eccad8a

I kohta: Hankintaviranomainen

Oikeusperusta
Direktiivi 2014/24/EU (Julkiset hankinnat)
I.1) Nimi ja osoitteet
Virallinen nimi:Lappeenrannan-Lahden teknillinen yliopisto LUT
Kansallinen yritys- ja yhteisötunnus:0245904-2
Postiosoite:Yliopistonkatu 34
Postinumero:53850
Postitoimipaikka:Lappeenranta
Maa:Suomi
Puhelin:+358 294462111
Sähköpostiosoite:hankinnat@lut.fi
NUTS-koodi:Lappeenranta (K405)
Pääasiallinen osoite: (URL)http://www.lut.fi

I.3) Viestintä

Hankinta-asiakirjat ovat suoraan saatavilla täydellisinä, rajoituksetta ja maksutta osoitteesta:

Osoite: (URL) https://tarjouspalvelu.fi/hanki

Lisätietoja saa

edellä mainittu osoite (kohta I.1)

Tarjoukset tai osallistumishakemukset on tehtävä/jätettävä
sähköisesti osoitteessa: (URL)https://tarjouspalvelu.fi/hanki?id=247900&tpk=1e0546d9-e89f-4c77-85f1-96cc7eccad8a
I.4) Hankintaviranomaisen tyyppi
University
I.5) Pääasiallinen toimiala
Koulutus

II kohta: Kohde

II.1) Hankinnan laajuus

II.1.1) Nimi:
X-ray diffractometer
II.1.2) Pääasiallinen CPV-koodi:
Laboratoriolaitteet, optiset ja tarkkuuslaitteet (lukuun ottamatta silmälaseja). (38000000-5)
II.1.3) Sopimuksen tyyppi
Tavarahankinnat
II.1.4) Lyhyt kuvaus:

Lappeenranta–Lahti University of Technology LUT intends to make a purchase of X-ray diffractometer.

II.1.5) Arvioitu kokonaisarvo
Arvo ilman alv:tä: 242000.00 EUR
II.1.6) Osia koskevat tiedot
Tämä sopimus on jaettu osiin: ei

II.2) Kuvaus

II.2.3) Suorituspaikka
Lappeenranta (K405)
II.2.4) Kuvaus hankinnasta:

Contracting entity: LUT Material Physics Laboratory. Description of current state Currently, we use a line focus Empyrean diffractometer located in Mikkeli, Laboratory of Green Chemistry. The diffractometer is good for powder diffraction and for thin film sample investigations. We restricted the incident beam by masking for trying to make the point focus beam, but the divergence of the collimated beam is large in horizontal plane and is not suitable for micro beam investigations. We have also several special needs, e.g., applying a magnetic field to the sample, straining the sample and varying the temperature during the measurement. Any of these tasks is not possible to do with the current diffractometer. Description of the target state X-ray microdiffraction analysis uses a very small size X-ray beam to carry out highly localized XRD measurements of a very small area. Recently developed instrumentation and techniques can perform microdiffraction on samples as small as 20-100 μm in diameter. Essential feature of the X-ray microdiffractometer is the small diameter of the X-ray beam (Fig. A). Incident beam collimators and a high magnification video camera are used to accurately and precisely position the sample area of interest in the X-ray beam (see Fig. B). A two-dimensional detector is used to collect the entire diffraction data while reducing the number of moving axes and associated uncertainty (see Fig. C). The research field of microdiffraction is rapidly growing in materials research and fabrication, because material properties and product yield and reliability are now analyzed from smaller domains. EBSD method, widely used in SEM, has higher spatial resolution, but less accurate in orientation determination. X-ray microdiffraction can be used for characterization of the samples with structure domains as in magnetic shape memory materials, as well as for samples with high compositional gradients, contaminations, inclusions, mineralogical samples, tiny cross-sections samples, patterned wafers, micro-devices and so on. LUT Material Physics requires for investigations of the MSM materials and devices a possibility to study single crystalline samples (orientation, crystal structure) with twin boundaries and the crystallographic domains (variants) oriented differently. Suitable diffractometer for such investigations should have X-ray tube with a point focus, three-axes sample stage rotation and x-y table. The equipment to be purchased forms the basis for the research of our laboratory. The equipment will be used also teaching and exercises. It else helps us attract foreign researchers to work in LUT. A description of the purchase is attached as Appendix 1

II.2.5) Hankintasopimuksen tekoperusteet
Peruste
Hinta
II.2.6) Arvioitu arvo
242000.00 EUR
II.2.7) Sopimuksen, puitejärjestelyn tai dynaamisen hankintajärjestelmän kesto
Kesto kuukausina tai päivinä:24 kuukautta
Tätä sopimusta voidaan jatkaa:ei
II.2.10) Tietoa eri vaihtoehdoista
Eri vaihtoehdot hyväksytään (vaihtoehtoiset tarjoukset): ei
II.2.11) Tietoa lisähankintamahdollisuuksista
Lisähankintamahdollisuudet: kyllä
Kuvaus mahdollisuuksista:

Reserve the possibility to order additional products.

II.2.13) Tietoa Euroopan unionin rahastoista

Hankinta liittyy Euroopan unionin varoin rahoitettavaan hankkeeseen ja/tai ohjelmaan: ei

IV kohta: Menettely

IV.1) Kuvaus

IV.1.1) Menettelyn luonne

Avoin menettely

IV.1.8) Tietoa WTO:n julkisia hankintoja koskevasta sopimuksesta (GPA)
Hankintaan sovelletaan julkisia hankintoja koskevaa sopimusta: kyllä

IV.2) Hallinnolliset tiedot

IV.2.2) Tarjousten tai osallistumishakemusten vastaanottamisen määräaika
6.9.2019 12:00
IV.2.4) Kielet, joilla tarjoukset tai osallistumishakemukset voidaan toimittaa:
englanti, suomi
IV.2.6) Vähimmäisaika, joka tarjoajan on pidettävä tarjouksensa voimassa
tai Kesto (kuukausina): 3 kuukautta
IV.2.7) Tarjousten avaamista koskevat ehdot
Päivämäärä:6.9.2019 14:30

VI kohta: Täydentävät tiedot

VI.1) Toistuvia hankintoja koskevat tiedot
Kyse on toistuvasta hankinnasta: ei
VI.2) Tietoa sähköisistä työnkuluista

Sähköinen laskutus hyväksytään

VI.4.1) Muutoksenhakuelin
Virallinen nimi:Markkinaoikeus
Postiosoite:Radanrakentajantie 5
Postinumero:00520
Postitoimipaikka:Helsinki
Maa:Suomi
Puhelin:+358 295643300
Sähköpostiosoite:markkinaoikeus@oikeus.fi
Faksi:+358 295643314
Internet-osoitehttp://www.oikeus.fi/markkinaoikeus
VI.5) Tämän ilmoituksen lähettämispäivä:
5.8.2019
«« Takaisin